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Surveillez vos composants optiques passifs à l’œil en permanence grâce à la plateforme CTP10. Mesurez en un seul balayage la perte d’insertion et la perte de retour dans une plage dynamique sans précédent et obtenez sans attendre des résultats d’une grande précision. La plateforme CTP10 est la solution idéale pour procéder à la caractérisation des nombreux composants de réseaux DWDM et de circuits photoniques intégrés.
Plateforme et modules de prochaine génération
La plateforme CTP10 prend en charge jusqu’à 10 modules remplaçables à chaud et traite de grandes quantités de données grâce à son système d’exploitation intégré.
Mesure rapide de la perte d’insertion et de la perte de retour
La plateforme CTP10 peut mesurer la perte d’insertion et la perte de retour d’une foule de composants en un seul balayage dans une plage dynamique inégalée. Le CTP10 est également compatible avec des vitesses de balayages supérieures à 500 nm/s.
Interface utilisateur graphique aussi puissante qu’intuitive
Le logiciel intégré utilise une interface utilisateur graphique intuitive sur deux écrans : le premier, pour la configuration des tests, et le second, pour l’affichage et l’analyse des résultats.
Caractéristiques principales
Applications
Longueurs d'ondes | 1 240 nm, 1 680 nm |
Longueurs d'ondes | 1 680 nm, 1 240 nm |