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Caractéristiques
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Gains
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| Source/charge de tension et de courant à quatre quadrants hautement flexible couplée à des compteurs de tension et de courant de précision |
Offre des performances hors pair avec une résolution de 6½ digits. |
| Source ou absorbe (2651 A) jusqu’à 2 000 W de puissance pulsée (±40 V, ±50 A) ou jusqu’à 200 W de puissance DC (±10 V à ±20 A, ±20 V à ±10 A, ±40 V à ±5 A) ;connexion facile de deux unités (en série ou en parallèle) pour créer des solutions jusqu’à ±100 A ou ±80 V |
Prend en charge la caractérisation/test des semiconducteurs de puissance, des LED haute luminosité, des dispositifs optiques, des cellules solaires et du GaN, du SiC et d’autres matériaux et composants. Les applications comprennent la caractérisation de la température de jonction des semiconducteurs ; la numérisation haute vitesse et haute précision ; les études d’électromigration; et les tests des dispositifs fort courant, forte puissance. |
| Source ou absorbe (2657 A) jusqu’à 180 W de puissance DC ou pulsée (±3 000 V à 20m A, ±1500 V à 120 mA) |
Fournit la haute tension requise pour la caractérisation et les tests des composants semiconducteurs de puissance, y compris le GaN, le SiC et d’autres matériaux composés et composants, les tests de décrochage et de fuite à 3 kV et la caractérisation des transitoires inférieurs à la millisecondes. |
| Logiciel basé sur un navigateur Web embarqué |
Permet le contrôle à distance via n’importe quel navigateur, sur n’importe quel ordinateur, de n’importe où dans le monde. |
| Choix de la numérisation ou de l’intégration des modes de mesure |
Prend en charge la caractérisation précise du comportement transitoire et permanent, y compris les effets thermiques changeant rapidement. |
| Technologie TSP (Test Script Processing) |
Permet une intégration facile du système avec le modèle 2657A et les modèles de la série 2600B. |
| Bus d’expansion de voie TSP-Link |
Permet de combiner plusieurs instruments 2651A et 2657A et certains instruments SMU série 2600B pour former un système intégré comprenant jusqu’à 32 voies. |
| Compatible avec le boîtier de test de composant forte puissance modèle 8010 et le panneau d’interface forte puissance modèle 8020 |
Fournit des connexions sûres et faciles pour tester des composants forte puissance au niveau de la partie packagée ou du wafer. |
| Outil logiciel gratuit Test Script Builder |
Vous permet de créer, modifier, déboguer et stocker des scripts de test TSP. |
| Logiciel de caractérisation des composants semiconducteurs ACS Basic en option |
Optimise la productivité lors de la caractérisation de pièces packagées pendant le développement, la vérification de la qualité ou l’analyse des défaillances. |
