Description de la technique des profilomètres NANOVEA :
Les profilomètres NANOVEA utilisent la technologie confocale chromatique à lumière blanche, une technique optique avancée pour la mesure des surfaces. Cette méthode sans contact repose sur la dispersion de la lumière blanche à travers une série de lentilles chromatiques à forte aberration. La lumière blanche émise, provenant d’une source haute puissance, est transmise par une fibre optique et dirigée vers le capteur optique.
Dans le capteur, la lumière est divisée en longueurs d’onde individuelles, chacune étant focalisée à une distance spécifique de la lentille frontale. Ces distances de focalisation définissent la plage de hauteur, où la position verticale de chaque longueur d’onde correspond à une hauteur distincte sur la surface de l’échantillon. À un moment et une position donnés, seule une longueur d’onde est focalisée sur le point éclairé de la surface, et le capteur optique capture la lumière réfléchie. Cette lumière réfléchie passe à travers une fibre optique qui agit comme un diaphragme, garantissant la confocalité, et est ensuite analysée par un spectromètre pour déterminer la hauteur correspondante.
L’avantage critique de ce système est que l’information de hauteur est directement encodée dans la longueur d’onde, ce qui permet une mesure de hauteur absolue, stable et calibrée. Cela permet aux profilomètres NANOVEA de reconstruire avec précision la topologie de la surface, atteignant une résolution verticale élevée jusqu’au niveau nanométrique.
Cette technologie excelle par sa haute précision, sa répétabilité et sa capacité à gérer des surfaces complexes, y compris les matériaux transparents, réfléchissants et rugueux. De plus, la technologie offre un grand angle d’acceptation, permettant la mesure précise de surfaces inclinées, ce qui en fait une solution idéale pour une large gamme d’applications dans de multiples industries.
Avantages Clés des Profilomètres NANOVEA
1. Précision et Répétabilité Absolues :
Chaque point de mesure est indépendant et non affecté par les points de données environnants, éliminant ainsi les erreurs associées aux algorithmes qui moyennent les informations des pixels voisins. Cela rend la technologie extrêmement fiable pour les surfaces complexes et garantit que même les plus petits détails sont capturés avec précision.
2. Haute Résolution :
Les profilomètres NANOVEA offrent une résolution verticale au niveau nanométrique, idéale pour les applications nécessitant des mesures précises de hauteur d’escalier et de rugosité. Leur précision latérale, basée sur des propriétés physiques plutôt que sur des corrections logicielles, assure un balayage précis sans interpolation ni distorsion.
3. Mesures Sans Contact :
La technologie confocale chromatique permet des mesures sans contact, idéales pour les matériaux fragiles, mous ou complexes. La nature non intrusive du système évite d’endommager les échantillons et maintient une précision constante sur différents types de matériaux, y compris les surfaces transparentes, réfléchissantes ou rugueuses.
4. Grand Angle d’Acceptation :
Grâce à un large angle d’acceptation, les systèmes NANOVEA excellent dans la mesure de surfaces inclinées ou rugueuses, ce qui les rend adaptés aux surfaces présentant une grande variabilité de texture ou de géométrie. La capacité d’analyser des surfaces inclinées jusqu’à 87° sur des matériaux diffus et de mesurer des géométries complexes fait des profilomètres NANOVEA un choix exceptionnel pour les applications difficiles.
5. Capteurs à Haute Vitesse :
Les options de capteurs à haute vitesse permettent une acquisition rapide des données sans compromettre la précision. La technologie des capteurs linéaires scanne plusieurs points simultanément, augmentant considérablement la vitesse des mesures sur de grandes surfaces.
6. Aucun Besoin d’Algorithmes Complexes ou de Soudure :
Contrairement à de nombreuses autres technologies de profilomètres, les profilomètres NANOVEA ne nécessitent pas d’algorithmes complexes pour calculer la hauteur ou la précision
latérale, ni de recourir à la soudure pour les images de grandes surfaces, éliminant ainsi les problèmes liés aux imprécisions des mouvements de la scène ou aux erreurs de soudure.
7. Polyvalence pour Tous Types de Matériaux :
Que ce soit des surfaces transparentes, réfléchissantes ou rugueuses, les profilomètres NANOVEA s’adaptent aux différentes propriétés des matériaux et aux conditions de surface sans perdre en précision ou en résolution. Les profilomètres NANOVEA permettent des mesures précises sur une large gamme de matériaux, même pour des surfaces présentant des variations extrêmes de réflectivité sur un même échantillon – de 0,01 % à 100 %, grâce au mode de double fréquence d’acquisition pour les surfaces à fort contraste (le bon taux d’acquisition est automatiquement choisi point par point afin de ne pas saturer le capteur tout en ayant suffisamment de signal pour des surfaces à fort contraste comme des lignes noires sur du papier ou de l’or sur un support noir.)
8. Fonctionnement en Conditions Difficiles :
Des versions portables et des capteurs pour des températures élevées jusqu’à 600°C sont disponibles pour soutenir l’analyse dans toutes les conditions. La fonction AVG intégrée prend le même point plusieurs fois et stocke sa moyenne afin d’éviter la nécessité de filtres supplémentaires dans un environnement bruyant.
9. Prêt pour une Application en Ligne :
La même technologie peut être intégrée dans des solutions en ligne ou à côté de la ligne pour un contrôle qualité supérieur.
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