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Laboratoire d’études profilométrie, tribologie, essais mécaniques 

Laboratoire d’études profilométrie, tribologie, essais mécaniques

Chez Nanovea, nous perfectionnons continuellement nos systèmes de nanoindentation, de profilométrie et de tribologie, en visant toujours les plus hauts standards de précision et de fiabilité.
Notre équipe a également étendu ses services pour inclure des programmes de formation personnalisés et des services de laboratoire tiers pour des tests spécialisés. À mesure que nous nous développons à l'international (États-Unis, Mexique, Europe et Inde), nous nous engageons à fournir un support et une qualité constants, notamment depuis notre siège européen à Turin, où nous proposons un support technique direct et un laboratoire de démonstration.

NANOVEA : Tests et conseils en laboratoire
Depuis plus de vingt ans, NANOVEA fournit des solutions de test pour des applications complexes en R&D et en contrôle qualité pour l'ingénierie des matériaux.
Des milliers de clients, à la pointe des industries les plus exigeantes, font confiance à la précision inégalée et à la supériorité technique de nos instruments.

En tant que développeur et fabricant d'instruments de pointe pour les tests et le contrôle qualité des matériaux, NANOVEA a acquis une expertise unique pour offrir à ses clients du monde entier une gamme complète de services de conseil et de tests de matériaux.

PROFILOMÉTRIE :
Analyse de surface 3D sans contact
Conditions environnementales : HAUTE TEMPÉRATURE
Analyse de surface :

  • Planéité et gauchissement
  • Géométrie et forme
  • Rugosité et finition
  • Hauteur et épaisseur des marches
  • Texture et grain
  • Volume et surface

Normes :

  • ISO 4287
  • ISO 12085
  • ISO 12181
  • ISO 12780
  • ISO 13565
  • ISO 25178

ESSAIS MÉCANIQUES :

Charges nanométriques et micrométriques
Conditions environnementales : Haute température / Basse température / Liquide
Indentation :

  • Fluage et relaxation
  • Ténacité à la rupture
  • Dureté et élasticité
  • Perte et stockage
  • Contrainte et déformation
  • Limite d'élasticité et fatigue

Rayer :

  • Rupture adhésive et cohésive
  • Usure multipasse
  • Dureté à la rayure

Friction :

  • Coefficient de friction

Normes :

  • ASTM B578
  • ASTM C1624
  • ASTM D7968
  • ASTM E384
  • ASTM E2546
  • ASTM G171

TRIBOLOGIE :
Chargement pneumatique avancé
Conditions environnementales : haute température / basse température / liquide / corrosion
Tests de frottement et d'usure :

  • Rotationnel
  • Linéaire
  • Arc alternatif
  • Bloc sur anneau
  • Anneau sur anneau (rondelle de butée)

Normes :

  • ASTM D3702
  • ASTM D4172
  • ASTM F732
  • ASTM G77
  • ASTM G99
  • ASTM G133


Topologie de surface et analyse chimique

Spectroscopie IR
Acquisition de spectres IR de matériaux connus :
Analyse réalisée sur échantillon et étalon par la méthode FTIR-ATR sans prétraitement.
Acquisition de spectres IR de matériaux inconnus :
Analyse réalisée par la méthode FTIR-ATR sans prétraitement. Définition des groupes fonctionnels.

Chromatographie
GC-MS :
Identification qualitative/semi-quantitative des composants des huiles et des matières organiques soumises à des tests tribologiques
LC-MS :
Identification qualitative/semi-quantitative des composants des huiles et des matières organiques soumises à des tests tribologiques

Microscopie électronique :
MET :
Microanalyse ponctuelle ou cartographie de distribution des éléments
MEB-FE/EDS :
Microanalyse ponctuelle ou cartographie de distribution des éléments

Analyse thermogravimétrique et thermovolumique :
ATG :
Avec flux d'azote ou atmosphère oxydante.
Plage de températures : [-90 °C, 500 °C].
Poids minimal de l'échantillon à tester : 10 mg.
DSC :
Identification qualitative/semi-quantitative des composants des huiles et des matériaux organiques soumis à des tests tribologiques.

Microscopie à force atomique (AFM) :
Analyse AFM haute résolution pour la topologie et les informations 3D avancées à l'échelle sub-nano

Diffraction des rayons X :
Diffraction des rayons X sur poudre et échantillons massifs
Analyse des données de diffraction des rayons X
Définition quantitative de la composition cristalline (méthode de Rietveld)
Définition des contraintes résiduelles

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