Testeur de circuits intégrés pulse : ICI 03 L-EFT | LANGEREMV

Le kit ICI 03 L-EFT se compose de trois sources ICI différentes émettant des impulsions électriques, de champ magnétique et de courant. Cela permet une analyse de haute précision et de très haute résolution des circuits intégrés et l'injection de biais.

Ces sources permettent l'analyse des canaux latéraux, par exemple pour tester les circuits critiques en matière de sécurité. Les caractéristiques spéciales comprennent des pointes de sonde à très haute résolution (permettant de tester des zones extrêmement petites) et une très faible gigue entre le déclenchement et l'impulsion (permettant de perturber des points très spécifiques de la séquence du programme).

Caractéristiques techniques

• Paramètre d'impulsion
• Temps de montée : < 2 ns
• Fréquence de répétition : 0.1 Hz - 20 kHz
• Polarité (définie par le logiciel) : + / - / alternée
• Délai de déclenchement de l'impulsion : (Mode Bypass - Ligne de retard)
• min. Retard de l'impulsion de déclenchement (typ.) : 100 ns
• max. Retard de l'impulsion de déclenchement (typ.) : 450 ns
• max. Gigue (typ.) : ± 1 ns
• Délai de déclenchement de l'impulsion (Mode Timer)
  
• min. Délai de déclenchement de l'impulsion (typ.) : 200 ns
• Délai de déclenchement max. (typ.) : 100 ms
• max. Gigue (typ.) : ± 15 ns
• Retard de déclenchement, incrément minimum : 10 ns
• Tension d'alimentation : BPS 202
• Logiciel : BPS 202-Client / DLL (32 Bit / 64 Bit) Win XP SP3 ou supérieur