Testeur de circuits intégrés pulse électrique : ICI E450 L-EFT | LANGEREMV

La source de champ électrique pulsé ICI E450 L-EFT couple des impulsions transitoires rapides dans un circuit intégré de test (open die). Cela permet d'analyser les canaux latéraux ou de tester l'immunité de certaines zones du circuit intégré.

Caractéristiques techniques

• Probe head dimensions : Ø 450 µm
• Courant de déplacement max. Courant de déplacement (Stripline 100 µm) : 7 mA

• Paramètre d'impulsion
• Temps de montée : < 2 ns
• Fréquence de répétition : 0.1 Hz - 20 kHz
• Polarité (définie par le logiciel) : + / - / alternée
• Puissance de mesure
• 50 Ω 
• Délai de déclenchement de l'impulsion : (Mode Bypass - Ligne de retard)
• min. Retard de l'impulsion de déclenchement (typ.) : 70 ns
• max. Retard de l'impulsion de déclenchement (typ.) : 420 ns
• max. Gigue (typ.) : ± 1 ns
• Tension d'alimentation : BPS 202
• Poids : 70 g
• Tailles (L x l x H) : (26 x 43 x 53) mm