Microscope atomique à sonde de balayage : ezAFM | NANOMAGNETICS INSTRUMENTS

Le microscopie a force atomique AFM est un certain type de microscope à sonde de balayage SPM.

Les SPM sont conçus pour mesurer des propriétés locales tels la hauteur, la friction, le magnétisme avec une sonde.

Pour acquérir une image, le SPM balaye avec sa sonde une petite surface de l’échantillon en mesurant simultanément ses propriétés. 

Nombreux modes de balayage possibles : Tapping Mode, Contact Mode, Lateral Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, f-d spectroscopy, Lithopgrahy.

De nombreuses propriétés des matériaux peuvent être déterminées par des techniques AFM incluant la friction, les forces électriques, les forces magnétiques, la conductivité, la visco-élasticité, le potentiel de surface et la résistance. 

Accessoires : 

• Module accès signal 
• Positionneur d’échantillons motorisé 40 mm stroke XY  
• Positionneur d’échantillons manuel 2 mm stroke XY 

Options d’imagerie étendues : 

• Scratching lithography 
• Microscopie a effet tunnel ( eqSTM ) 
• Cellule liquide 

Caractéristiques techniques : 

• Encorbeillements sans alignement disponibles 
• Gamme de balayage :  120x120x40um or 40x40x4um
• Imagerie par contact en phase dynamique , modes force latérales et MFM 
• Noise floor 65 fm/Hz
• Résolution 2 µm avec microscope optique intégré 
• Retour numérique avec FPGA/DSP
• Dimensions de l’échantillon : 10 x 10 x 5 MM ( configurable or taille d’échantillon illimitée ) 
• Interface USB 
• Caméra pour vue de coté 
• Mise à jour gratuite du logiciel à vie et licences utilisateurs illimitées

Avantages  :

• Basé sur une technologie innovante avec performances supérieures 
• S’installe en seulement 1 heure 
• Résolution XY environ 1nm 
• Résolution Z 0.02nm
• Faible encombrement ( 25 x 25 cm ) 
• Compact  seulement 5 kg avec étui de transport  
• Mise à jour gratuite du logiciel à vie et licences utilisateurs illimitées  

Applications types : 

• R&D, éducation et application de contrôle qualité