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CompactDAQ, 4 emplacements, ±5 V, 51,2 kéch./s/voie, 24 bits, deux modules 4 voies
CompactDAQ, 1 emplacement, 4 voies, 51,2 KS/s/canal, -5 V à 5 V
CompactDAQ, 1 emplacement, 8 voies, 51,2 KS/s/canal, -5 V à 5 V
CompactDAQ, 4 emplacements, ±10 V, 100 kéch./s/voie, 16 bits, 16 voies
CompactDAQ, 1 emplacement, ±10 V, 100 kéch./s/voie, 16 bits, 16 voies
CompactDAQ, 1 emplacement, ±10 V, 250 kéch./s, 16 bits, 32 voies
CompactDAQ, 4 emplacements, 16 voies, 75 éch./s total, ±78 mV
CompactDAQ, 1 emplacement, 16 voies, 75 éch./s total, ±78 mV
CompactDAQ, 1 emplacement, 4 voies, 14 éch./s total, ±80 mV
SystemLink est un logiciel de gestion de données et de systèmes développé pour la configuration et la gestion de systèmes.
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Module d’entrée/sortie numérique TestScale (5 V/TTL, 32 voies) Ce dispositif offre des capacités bidirectionnelles de génération de signaux de...
Module d’entrée analogique TestScale (10 V, 16 bits, 32 voies) Ce produit offre des fonctionnalités de mesure de signaux de tension d'entrée...
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Fond de panier pour montage TestScale, connectivité pour support de montage.
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Le système de test des radars de véhicules (VRTS) offre des capacités de mesure radar automatisée et de simulation d'objets pour les radars 76-81...
Les PXIe-7890 est un module d'E/S multifonctions FlexRIO conçus et ciblés pour les applications HIL (Signal Level Inverter).
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Depuis plus de 40 ans, NI développe des systèmes de test automatisé et de mesure automatisée pour permettre aux ingénieurs de relever les principaux défis auxquels le monde est confronté.
NI propose du matériel, des logiciels, des services et des systèmes modulaires qui établissent la norme pour les systèmes de test et de mesure automatiques. ES peut vous conseiller pour trouver les bons produits pour vous aider à tester plus rapidement, à mieux concevoir, à améliorer la fiabilité et à maximiser vos données de test.