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Résistivimètre portatif pour matériaux : Loresta-GX-II | NITTOSEIKO ANALYTECH

Le nouveau résistivimètre portable Loresta-GX-II permet une mesure précise sur les matériaux conductifs (avec une faible résistivité électrique).

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Description

Le nouveau résistivimètre portable Loresta-GX-II permet une mesure précise sur les matériaux conductifs (avec une faible résistivité électrique).
Il est dédié aux ingénieurs de production, aux services de contrôle qualité et la R&D.

Par rapport à la précédente version Loresta GX , le Loresta GX-Il est équipé :

  • d’un nouveau connecteur
  • d’une gamme de mesure élargie
  • d’un nouvel écran tactile couleur 7,5 pouces

Par rapport au résistivimètre d’entrée de gamme Loresta –AX, le résistivimètre Loresta- GX possède en plus :

  • une gamme de mesure plus étendue : 10 -4 à 10 7 Ω
  • un calcul de facteur de correction de résistivité automatique quand la forme de l’échantillon est programmée (à l’inverse du Lotesta-Ax ou ce calcul est manuel)
  • un mode dédié Silicon pour la mesure de wafers
  • une mesure sur une touche via la sonde MCP

Basé sur la méthode de mesure 4 terminaux 4 broches :

  • La résistance de contact entre l’échantillon et la sonde est exclue : cela permet d’effectuer une mesure précise
  • La pression de la broche, l’intervalle entre les broches et le diamètre de la broche est maintenue constants en utilisant la sonde MCP
  • Livré en configuration standard avec sonde : ASP-TP03P (type linéaire 4 broches) et outil vérificateur de sonde MCP-TRIF1

Caractéristiques techniques :

  • Basé sur la méthode de mesure 4 terminaux 4 broches
  • Écran tactile couleur LCD  640 x 480 de 7,5 pouces  
  • Gamme étendue :  10 -4 à 10 7 Ω   
  • Changement de gamme automatique ou manuel
  • Alimenté sur prise secteur
  • Sondes type MCP : ESP, LESP, PSP, QPP, BSP, NSCP
  • Mémoire flash USB
  • Récupération des données via port USB
  • Dimensions : 320 x 285 x 110 mm
  • Poids : 2,4 kg

Avantages :

  • large gamme de mesure
  • équipé d’un écran couleur tactile de 7,5 pouces un calcul de facteur de correction de résistivité automatique quand la forme de l’échantillon est programmée   
  • mode dédié Silicon pour la mesure de wafers
  • mesure sur une touche via la sonde MCP
  • précision du résisitivimètre Loresta et des sondes peuvent être vérifiées rapidement en utilisant l’outil : vérificateur de sonde livré en standard
  • données mesurées peuvent être renvoyées sur port USB

Applications types : très large gamme de mesure sur produits conductifs :

  • Peinture, encre, pate, plastique, caoutchouc
  • Silicon wafer  
  • Films, films transparents, verre ITO, revêtements aluminium, zinc, matériaux antistatiques, matériaux protection EMI, céramiques
  • Matériaux plaqués, alliages de magnésium, plaque de plaquage acier

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