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La sonde de champ proche XF-R 3-1 est conçue pour des mesures directes à haute résolution des champs magnétiques RF sur un assemblage, par exemple autour des broches et des boîtiers de circuits intégrés, des chemins conducteurs, du condensateur de découplage et des composants CEM.
En principe, la sonde de champ H XF-R 3-1 a la même structure que les sondes XF-R 100-1 et XF-R 400-1. La résolution du XF-R 3-1 est nettement supérieure. La sonde de champ H convient aux mesures effectuées à proximité des composants présentant une intensité de champ magnétique élevée. Elle ne convient pas pour les mesures à grande distance, qui peuvent être effectuées à l'aide des sondes XF-R 400-1 et XF-R 100-1. La sonde de champ proche est petite et pratique. Elle est dotée d'une gaine d'atténuation du courant et est donc blindée électriquement. Elle peut être connectée à un analyseur de spectre ou à un oscilloscope avec une entrée de 50 Ω. La sonde de champ H possède une résistance de terminaison interne.
Caractéristiques techniques :
Gamme de fréquence | 30 MHz à 6 GHz |
Résolution | ≈ 1 mm |
Dimension de la tête de sonde | Ø ≈ 3 mm |
Connecteur | SMB, mâle, jack |
Poids | 15 g |
Réponse en fréquence [dBµV] / [dBµA/m] | |
Courbe de correction du champ H [dBµA/m] / [dBµV] | |
Courbe de correction du courant [dBµA] / [dBµV] | |
Principe de mesure |