Description
L'ensemble SX1 se compose de trois sondes passives de champ proche pour mesurer les champs E et les champs magnétiques avec une fréquence d'horloge élevée de 1 GHz à 10 GHz sur les assemblages électroniques et les circuits intégrés au cours de la phase de développement. Les différentes têtes de sonde de l'ensemble SX1 permettent d'effectuer des mesures très près des assemblages électroniques, par exemple sur les broches d'un seul circuit intégré, les chemins conducteurs, les composants et les connecteurs, afin de localiser les sources d'interférence. L'orientation et la distribution du champ d'un assemblage électronique peuvent être détectées grâce à l'utilisation spécifique de la sonde de champ proche. Les sondes de champ proche sont petites et pratiques. Elles sont dotées d'une gaine d'atténuation du courant et sont blindées électriquement. Elles peuvent être connectées à un analyseur de spectre ou à un oscilloscope avec une entrée de 50 Ω.
Les fréquences d'horloge élevées, par exemple supérieures à 3 GHz, approchent les 10 GHz dès la 3e harmonique. Ces harmoniques sont découplées des sources RF sur la carte, par exemple les sections conductrices, les circuits intégrés et les autres composants. D'autres parties structurelles de l'assemblage peuvent être excitées pour osciller et conduire à des émissions d'interférences.
Avec la fréquence de base interne élevée des assemblages actuels, la mesure des multiples de fréquence des harmoniques est une étape importante vers un assemblage conforme à la CEM.
Caractéristiques techniques :
| Gamme de fréquence |
1 GHz à 10 GHz |
| Connecteur |
SMA, femelle, jack |
| Poids |
200 g |
Livré avec :
- 1x SX-E 03, sonde de champ E 1 GHz à 10 GHz
- 1x SX-B 3-1, sonde de champ H 1 GHz à 10 GHz
- 1x SX-R 3-1, sonde de champ H 1 GHz à 10 GHz
- 1x SMA-SMA 1 m es, câble de mesure blindé SMA-SMA
- 1x valise 4, valise système Sondes de champ proche
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