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Analyseur XRF pour identification des œuvres d’art : ElvaX Art | Elvatech

L'analyseur ElvaX Art est une nouvelle unité qui rejoint la famille des systèmes de spectromètres à fluorescence X portables produits par Elvatech.

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Description

L'analyseur ElvaX Art est une nouvelle unité qui rejoint la famille des systèmes de spectromètres à fluorescence X portables produits par Elvatech. Cet analyseur mobile portable, conçu spécifiquement pour l'analyse des œuvres d'art, comprend une caméra CCD et un petit faisceau. Cela permet de mesurer avec précision une petite section sélectionnée d'un artefact immobile, d'une peinture ou d'un article en métal. Le système ElvaX Art est conçu pour être utilisé avec le logiciel ElvaX et un ordinateur de bureau ou portable, créant ainsi un outil puissant, plus polyvalent que les systèmes portables ou de bureau classiques. Par rapport à d'autres techniques, l'analyseur présente l'avantage d'être non destructif, multi-élémentaire, rapide et économique.

Le système ElvaX Art peut être utilisé pour analyser et identifier qualitativement les éléments contenus dans les pigments minéraux, tels que le titane, le plomb, le chrome, le cuivre, le zinc, le fer, etc. De plus, il permet de déterminer les éléments contenus dans le verre, la céramique et l'obsidienne, ainsi que les analyses de métaux précieux et non précieux. L'analyseur est également utilisé pour l'identification d'outils en pierre et d'objets métalliques ou de nombreux objets de musée.

Grâce à la fluorescence X non destructive, les objets et les échantillons restent intacts et indemnes.

Des applications customisées sont disponibles sur demande.

Caractéristiques techniques :

  • Général :
    - Taille du faisceau : 0,2 mm à 4 mm, manuel
    - Dimensions : 174 x 143 x 172 mm
    - Poids : 2,5 kg
    - Alimentation : 100 – 240 VAC 50/60 Hz,
    - Consommation électrique maximale : 20 watts
    - Écran vidéo : écran LCD TFT de 5 pouces, grossissement 10x
    - Acquisition des données : durée 1 – 100 sec.
  • Source de rayons X numérique :
    - Anode : W, Rh
    - Tension : 4 – 40 kV (en option 50 kV)
    - Courant : Courant du tube 0 – 200 uA
  • Détecteur de rayons X :
    - Type : SDD à grande surface
    - Résolution : < 140 eV et Mn Kα
  • Capacités de mesure :
    - Plage détectable - Cl (17) – Pu (94)
    - Plage d'éléments légers en option - Mg (12) – S (16)
    - Concentration détectable inférieure à 10 PPM pour la plupart des éléments dans une matrice légère

Avantages :

  • Localité : une caméra CCD et un faisceau de rayons X étroit permettent de viser précisément le site d'analyse souhaité.
  • Mobilité : la tête d'analyse du système ElvaX Art peut être montée sur la platine de positionnement manuelle ou motorisée à deux axes, ou sur le bras robotisé. Le poids léger du système n'est que de 2,5 kg - ce qui permet de le transporter facilement.
  • Large gamme d'analyses : le système ElvaX Art peut détecter et analyser des éléments légers allant de Mg (12) à S (16), et une large gamme d'autres éléments - de Cl (17) à Pu (94).

Applications types : Authentification d'œuvres d'art, Recherche du patrimoine culturel, Restauration d'œuvres d'art, Céramique, Archéologie et archéométrie, Métaux et alliages.

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