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Station de test automatisée multidisque : OPAL-MD | EXFO

La station de test multidisque OPAL-MD offre une caractérisation avancée des circuits intégrés photoniques grâce à un matériel précis, reproductible, flexible et rapide.

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Description

Station de Test Multidisque OPAL-MD
La station de test multidisque OPAL-MD offre une caractérisation avancée des circuits intégrés photoniques grâce à un matériel précis, reproductible, flexible et rapide. La suite logicielle PILOT optimise les capacités matérielles de l’OPAL-MD, fournissant une station de test automatisée et des mesures de haute qualité transformables en données exploitables. Cette suite complète d’applications soutient l’ensemble du flux d’essais et de mesures, aidant les utilisateurs à devenir plus axés sur les données. Combinée aux capacités de mesure optique avancées d’EXFO et compatible avec tout instrument tiers, l’OPAL-MD est une plateforme dédiée aux tests PIC.

Caractéristiques Matérielles

  • Système de mouvement motorisé à 4 axes : Inclut une platine de positionnement en mandrin avec contrôle thermique en option.
  • Système de vision : Comprend une vision supérieure à haute résolution et une vision latérale télécentrique.
  • Têtes de palpage : Peut accueillir jusqu’à trois têtes de palpage pour des sondes optiques ou électriques.

Avantages
La haute résolution et la répétabilité du système de mouvement de base et de la sonde optique motorisée permettent de réduire la perte d’insertion et la marge d’erreur sur les mesures optiques. Ces mesures peuvent être répétées efficacement sur plusieurs matrices et circuits, sans intervention humaine pendant l’exécution du test.

Caractéristiques principales :

  • Caractérisation PIC multi-pièces en une seule exécution
  • Conception flexible avec des sondes reconfigurables
  • Suite logicielle unique pour la préparation, l'exécution et l'analyse des données de test PIC
  • Fonctionne avec le testeur de composants optiques EXFO et d'autres équipements de test
  • Têtes optiques ultra-précises - idéales pour le couplage de surface et de bord
  • Positionneurs de sonde DC et RF précis

 Applications :

  • Sondage et test optique et électrique de la photonique intégrée sur des matrices multiples
  • Tests optoélectroniques sur toutes les plateformes photoniques intégrées : photonique au silicium, phosphure d'indium, III-V, polymère, hétérogène, etc.
  • Agnostique en termes d'applications : émetteurs-récepteurs de télécommunication et de transmission de données, quantum, LIDAR, capteurs, IA, etc.
  • Production pilote
  • Validation de la conception et du processus
  • Vérification de la matrice MPW

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