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Les cartes de démonstration du set DB 20 sont destinées à la démonstration des phénomènes d’immunité et d’émission d’interférences.
Les cartes de démonstration sont conçues pour des démonstrations de divers dispositifs de mesure CEM tels que les analyseurs de spectre et les sondes de champ proche, mais aussi les générateurs ESD et burst de tous les fabricants.
Les mesures d’émission d’interférences avec antenne sont également possibles.
Quatre cartes de démonstration différentes sont incluses dans le set. Avec celles-ci, les mécanismes de couplage électrique ou magnétique de l’immunité aux interférences ou de l’émission d’interférences peuvent être clairement montrés.
Le manuel d’utilisation du set DB 20 présente diverses expériences et configurations de mesure utilisant les systèmes de développement E1 Immunity et ESA1 Emission, le transformateur de burst PT4 et diverses sondes de champ proche de Langer EMV-Technik GmbH.
Ces configurations de mesure sont des suggestions. Les expériences et configurations de test peuvent être simulées et modifiées de nombreuses façons avec d’autres dispositifs de mesure.
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