Description
Le profilomètre JR25 de Nanovea vous permet d'utiliser la puissance d'un profilomètre de bureau directement sur votre échantillon. Idéal pour mesurer des échantillons difficiles à déplacer ou pour les laboratoires nécessitant un rangement compact après utilisation, il est également disponible pour les clients dont l'échantillon doit rester immobile pendant les mesures. Exemples typiques : poudres et échantillons immergés dans un liquide.
Équipé d'une platine de 25 mm x 25 mm avec capteurs de mesure interchangeables, il permet de mesurer une large gamme de géométries d'échantillons, qu'ils soient mats ou réfléchissants.
Fonctionnement :
La technique confocale chromatique utilise une lumière blanche traversant une série de lentilles présentant un degré élevé d'aberrations chromatiques. Chaque longueur d'onde se focalise à une distance différente, créant ainsi la plage de mesure verticale. Lorsqu'une surface d'intérêt se trouve dans la plage de mesure, une seule longueur d'onde de la lumière blanche est focalisée, tandis que toutes les autres sont floues. Seule la longueur d'onde focalisée traverse le filtre sténopé pour atteindre le spectromètre CCD. La longueur d'onde physique mesurée correspond à une position verticale. Aucun algorithme complexe n'est utilisé pour obtenir la valeur de hauteur, garantissant des résultats précis pour toutes les conditions de surface, contrairement à d'autres techniques.
Avantages :
- Entièrement portable, pesant moins de 5,5 kg, avec mallette de transport pratique.
- Platine d'échantillonnage de 25 mm x 25 mm, permettant de maintenir l'échantillon immobile.
- Mesures 2D et 3D.
- Robuste et facile à utiliser.
- Mesure d'échantillons plats et courbes grâce à des capteurs interchangeables.
- Mesure d'échantillons mats et réfléchissants.
- Possibilité d'approcher les échantillons sous des angles difficiles.
- Mesure sur toute la plage de la platine, sans assemblage d'images ni mise au point.
- Logiciel d'analyse puissant.
Caractéristiques techniques :
- Course de l'axe X-Y : 200 mm x 150 mm
- Déplacement de l'axe Z : 50 mm motorisé (dégagement manuel supplémentaire disponible)
- Vitesse maximale X-Y : 40 mm/s
Spécifications du capteur :
| Vitesse standard | PS1 | PS2 | PS3 | PS4 | PS5 | PS6 |
|---|
| Plage de hauteur maximale |
110 µm |
300 µm |
1.1 mm |
3.5 mm |
10 mm |
24 mm |
| Distance de travail |
3.35 mm |
10.8 mm |
12 mm |
16.2 mm |
25.9 mm |
20 mm |
| Précision latérale X-Y |
0.9 µm |
1.2 µm |
2.0 µm |
3 µm |
7 µm |
8 µm |
| Répétabilité de la hauteur* |
1.2 nm |
2.2 nm |
3.4 nm |
17 nm |
31 nm |
41 nm |
*Mesure en point fixe sur verre. Variation moyenne de la hauteur Ra pour 1 200 points (100 échantillonnages)
Applications en profilométrie sans contact 2D et 3D :
- Rugosité et finition
- Texture et grain
- Géométrie et forme
- Hauteur et épaisseur des marches
- Volume et surface
- Planéité et gauchissement
