Description
Le Profilomètre JR100 de Nanovea vous permet de bénéficier de la puissance d'un profilomètre de bureau haute vitesse directement sur votre échantillon. Idéal pour mesurer des échantillons difficiles à déplacer ou pour les laboratoires nécessitant de ranger votre profilomètre après utilisation.
Équipé d'une platine de 100 mm x 100 mm avec capteurs de mesure interchangeables, il permet de mesurer une large gamme de géométries d'échantillons, qu'ils soient mats ou réfléchissants.
Fonctionnement :
La technique confocale chromatique utilise une lumière blanche traversant une série de lentilles présentant un degré élevé d'aberrations chromatiques. Chaque longueur d'onde se focalise à une distance différente, créant ainsi la plage de mesure verticale. Lorsqu'une surface d'intérêt se trouve dans la plage de mesure, une seule longueur d'onde de la lumière blanche est focalisée, tandis que toutes les autres sont floues. Seule la longueur d'onde focalisée traverse le filtre sténopé pour atteindre le spectromètre CCD. La longueur d'onde physique mesurée correspond à une position verticale. Aucun algorithme complexe n'est utilisé pour obtenir la valeur de hauteur, garantissant des résultats précis pour toutes les conditions de surface, contrairement à d'autres techniques.
Caractéristiques techniques :
- Course de l'axe X-Y : 200 mm x 150 mm
- Déplacement de l'axe Z : 50 mm motorisé (dégagement manuel supplémentaire disponible)
- Vitesse maximale X-Y : 40 mm/s
Spécifications du capteur :
| Vitesse standard | LS1 | LS2 | LS3 |
|---|
| Plage de hauteur maximale |
200 µm |
0,95 mm |
3,9 mm |
| Distance de travail |
5,3 mm |
18,5 mm |
41 mm |
| Répétabilité de la hauteur* |
14 nm |
21 nm |
70 nm |
| Précision latérale de chaque point |
1 µm |
2 µm |
5 µm |
| Taux d'acquisition (points par seconde) |
384 KHz |
384 KHz |
384 KHz |
* Mesure en point fixe sur verre. Variation moyenne de la hauteur Ra pour 1 200 points (100 échantillonnages)
Avantages :
- Entièrement portable
- Platine d'échantillonnage verticale de 100 mm x 100 mm, où l'échantillon reste immobile
- Mesure haute vitesse : 384 000 points de hauteur par seconde
- Mesure 2D et 3D
- Robuste et facile à utiliser
- Mesure d'échantillons ternes et réfléchissants
- Mesure sur toute la plage de la platine, sans assemblage d'images ni mise au point
- Logiciel d'analyse puissant
APPLICATIONS EN PROFILOMÉTRIE SANS CONTACT 2D ET 3D :
- Rugosité et finition
- Texture et grain
- Géométrie et forme
- Hauteur et épaisseur des marches
- Volume et surface
- Planéité et gauchissement
