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Congrès Français d'Acoustique (CFA)
Éllipsométrie sur films minces, analyse d'angle et tension de surface et mouillabilité
Ateliers techniques audio APx500
Des solutions précises de caractérisation pour la recherche, l'enseignement et l'industrie
Dans les domaines de la recherche scientifique, de l’enseignement supérieur et de l’industrie, la caractérisation des surfaces joue un rôle essentiel. Comprendre les propriétés optiques, chimiques et physiques des matériaux est indispensable pour développer des produits innovants, contrôler la qualité ou encore optimiser les procédés de fabrication.
Parmi les techniques les plus performantes, l’ellipsométrie se distingue par sa capacité à fournir des mesures non destructives, précises et rapides des films minces et des revêtements.
L’ellipsométrie est une technique optique utilisée pour analyser la manière dont la polarisation de la lumière change lorsqu’elle est réfléchie sur une surface. Ces variations permettent de déterminer :
C’est une méthode incontournable dans de nombreux secteurs : nanotechnologies, microélectronique, photonique, chimie des surfaces, revêtements optiques, etc.
Chez Équipements Scientifiques, nous proposons une gamme complète d’instruments pour l’analyse des surfaces et interfaces, incluant :
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