Scanners de champs électromagnétiques

La compatibilité électromagnétique est une contrainte à laquelle les ingénieurs en phase de R&D sont de plus en plus exposés. Des modules encore plus puissants et compacts avec des temps de développement plus courts, des fréquences plus hautes rendent cette exigence technique encore plus compliquée. 

Detectus a développé le système de scanner EMC pour l’aide aux mesures de pré-qualification CEM : identifier l’intensité et la localisation de source de radiation jusqu’au niveau du composant. 

Ces mesures réduisent les risques que le produit ne passe pas les tests CEM en laboratoire. L’utiliser dès la phase de développement permettra de détecter des problèmes d’émission avant l’intégration finale du produit et éviter une correction coûteuse. 

Le système consiste en un plateau avec un bras robotisé X-Y-Z, un analyseur de spectre avec une sonde de champs proche et le logiciel DSS (compatible avec une grande sélection d’analyseur de spectre du marché). 

Pendant la mesure la sonde de champs proche est déplacée par le robot sur une grille de points de mesure au-dessus de l’objet sous test. A chaque point de mesure, la localisation de la sonde et l’intensité du champs sont enregistré dans le logiciel. 

À la fin du scan, les résultats de mesure peuvent être documentés sous différents formats de rapport.

Principales fonctions : Mesures comparatives objectives  Multi scan de fréquence Import de surface 3D avec fichier .stl Scanner de température haute résolution  Option test d’immunité

Informations Supplémentaires