Générateur de fonction arbitraire 250 MHz, 2 GS/s : AFG31000

La série de générateurs de fonctions arbitraires AFG31000 bénéficie de hautes performances avec une génération de forme d'ondes arbitraires intégrée, une surveillance de forme d'ondes en temps réel et le plus grand écran tactile du marché.

L’interface avec l’écran tactile de grande taille facilitera toutes les créations de formes d’ondes arbitraires mais aussi la génération de pulses ou de signaux simples. Cette série de générateurs est un vrai gain de temps pour les ingénieurs.

L'option "double impulsion" : Le test à double impulsion est une méthode permettant de mesurer les paramètres de commutation et d'évaluer les comportements dynamiques des dispositifs d'alimentations.

Comment marche la "double impulsion" ?
Le test à double impulsion est effectué avec une charge inductive et une alimentation.
L'inducteur est utilisé pour reproduire les conditions de circuit dans une conception de convertisseur. L'alimentation est utilisée pour fournir une tension à l'inducteur.
Un générateur de fonction arbitraire est utilisé pour émettre des impulsions qui déclenchent la porte du MOSFET et l’activent ainsi pour démarrer la conduction du courant.

Plus d'information

Caractéristiques techniques

Modèles à 1 ou 2 voies Bande passante de : 25 MHz à 250 MHz Ecran tactile capacitif 9 pouces Amplitude de sortie dans la plage de 1 mVp-p à 10 Vp-p pour des charges de 50 Ω Mode de base (AFG) : Options de fréquence des formes d'ondes sinusoïdales de 25 MHz, 50 MHz, 100 MHz, 150 MHz ou 250 MHz Fréquences d’échantillonnage de 250 Méch/s, 1 Géch/sou 2 Géch/s résolution verticale de 14 bits Les formes d’ondes intégrées comprennent les formes sinusoïdales, carrées, à rampe, à impulsions, du bruit et autres formes fréquemment utilisées. Modes de balayage, rafale et modulation (AM / FM / PM / ASK / PSK / FSK / PWM) Mode avancé (séquence) : Mode continu (séquence optionnelle) Mémoire de signaux arbitraires de 16 Mpts sur chaque canal (128 Mpts en option) Jusqu'à 256 étapes en mode séquence avec des erreurs loop, jump et wait Horloge d'échantillonnage variable 1 μSa/ s à 2 Géch/s

fiche technique